Dispositivo de medición de frecuencias, método de medición de frecuencias y dispositivo de protección de carga de subfrecuencias.

Un dispositivo (1) de medición de frecuencias que comprende:

una unidad (10) de módulo de muestreo configurada para sacar un valor de muestreo de tensión según una tensión a ser muestreada y una frecuencia de muestreo introducida a ella;



una unidad (20) de cálculo de desplazamiento de ángulo basado en la Transformada de Fourier Discreta DFT de ciclo único configurada para calcular y sacar un primer desplazamiento de ángulo basado en la DFT de ciclo único, según el valor de muestreo de tensión introducido desde la unidad de módulo de muestreo;

caracterizado por una unidad (30) de cálculo de desplazamiento de ángulo basado en la DFT de ciclo múltiples configurado para calcular y sacar un segundo desplazamiento de ángulo basado en la DFT de ciclo múltiple, según el valor de muestreo de tensión introducido desde la unidad de módulo de muestreo;

una unidad (40) de desplazamiento de ángulo configurada para seleccionar y sacar uno entre el primer desplazamiento de ángulo y el segundo desplazamiento de ángulo cuyo valor absoluto sea menor como una compensación del ángulo seleccionada, según el primer desplazamiento de ángulo y el segundo desplazamiento de ángulo introducida a ella;

una unidad (50) que calcula y saca la frecuencia de muestreo configurada para calcular una frecuencia de muestreo según la compensación de ángulo seleccionada introducida a ella, y para sacar la frecuencia de muestreo a la unidad (10) de módulo de muestreo como una nueva frecuencia de muestreo; y

una unidad (60) que calcula y saca el valor de medición de frecuencia configurada para calcular y sacar un valor de frecuencia de muestreo según la compensación de ángulo seleccionada introducida a ella.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E16306726.

Solicitante: SCHNEIDER ELECTRIC INDUSTRIES SAS.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: 35, rue Joseph Monier, CS 30323 92500 Rueil-Malmaison FRANCIA.

Inventor/es: XING,JINLEI.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R19/25 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 19/00 Disposiciones para proceder a las medidas de corrientes o tensión o para indicar su existencia o el signo (G01R 5/00 tiene prioridad; para la medida de corrientes o tensiones bioeléctricas A61B 5/24). › utilizando técnicas de medida digitales.
  • G01R23/00 G01R […] › Dispositivos para realizar medidas de frecuencia; Dispositivos para realizar análisis de espectros de frecuencia.
  • G01R23/12 G01R […] › G01R 23/00 Dispositivos para realizar medidas de frecuencia; Dispositivos para realizar análisis de espectros de frecuencia. › por conversión de la frecuencia en desfase.

PDF original: ES-2727410_T3.pdf

 

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