Procedimiento de diagnóstico de un sistema fotovoltaico.
Procedimiento de diagnóstico de un sistema fotovoltaico (1) que comprende al menos dos subcampos fotovoltaicos (2,
2') que comprenden unos módulos fotovoltaicos (3, 3'), presentando los dos subcampos fotovoltaicos (2, 2') una orientación y/o una inclinación diferentes y estando cada subcampo fotovoltaico (2, 2') asociado al menos a un sensor (4, 4') de medición de una magnitud eléctrica característica de su funcionamiento, caracterizado por que comprende las siguientes etapas:
(E1) - mediciones de al menos una magnitud eléctrica por cada sensor (4, 4') en varios instantes de un periodo considerado;
(E2) - cálculo de valores de referencia mediante la transposición de las mediciones de una magnitud eléctrica características del funcionamiento de un subcampo fotovoltaico de referencia, generando la transposición una estimación de los valores de la magnitud eléctrica que se medirían si dicho subcampo fotovoltaico de referencia presentara la misma orientación y/o inclinación que al menos otro subcampo fotovoltaico del sistema fotovoltaico;
(E3) - comparación de las mediciones de una magnitud eléctrica característica asociadas a este al menos otro subcampo fotovoltaico con los valores de referencia durante un lapso de tiempo elegido para deducir de ello o no un fallo del sistema fotovoltaico durante dicho lapso de tiempo
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E15192383.
Solicitante: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES.
Inventor/es: PICHENOT,GRÉGOIRE, KHALED,IMENE.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- H02S50/10 ELECTRICIDAD. › H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA. › H02S GENERACIÓN DE ENERGÍA ELÉCTRICA MEDIANTE LA CONVERSIÓN DE LA RADIACIÓN INFRARROJA, LUZ VISIBLE O LUZ ULTRAVIOLETA, p. ej. UTILIZANDO MÓDULOS FOTOVOLTAICOS [FV] (obtención de energía eléctrica a partir de fuentes radiactivas G21H 1/12; dispositivos semiconductores inorgánicos sensibles a la luz H01L 31/00; dispositivos termoeléctricos H01L 35/00; dispositivos piroeléctricos H01L 37/00; dispositivos semiconductores orgánicos sensibles a la luz H01L 51/42). › H02S 50/00 Monitorización o ensayos de sistemas FV, p. ej equilibrio de carga o identificación de fallos. › Ensayos de dispositivos FV, p. ej. de módulos FV o células FV individuales (ensayo de dispositivos semiconductores durante su fabricación H01L 21/66).
PDF original: ES-2701418_T3.pdf
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