Método para la determinación de la permitividad dieléctrica de un objeto dieléctrico.

Un método para la determinación de la permitividad dieléctrica de un objeto dieléctrico contra el fondo de un reflector,

comprendiendo el método:

irradiar el objeto dieléctrico con una radiación de microondas coherente en N frecuencias,

detectar la señal reflejada desde el objeto dieléctrico y el reflector, por lo que el método comprende además: el procesamiento coherente de la señal detectada y la recepción de una imagen de microondas tridimensional del objeto dieléctrico y del reflector, en donde la imagen de microondas corresponde solamente a una superficie tridimensional formada con puntos que corresponden a los valores máximos de la intensidad de la configuración reconstruida de las dispersiones del objeto dieléctrico y del reflector;

la obtención adicionalmente de una imagen de video de una región, donde el objeto dieléctrico y el reflector se localizan mediante el uso de dos o más cámaras de video, sincronizadas con la fuente de radiación de microondas; la conversión de la imagen de video obtenida a una forma digital y la construcción de una imagen de video tridimensional de dicha región;

la conversión de la imagen de video tridimensional y de la imagen de microondas a un sistema general de coordenadas;

a partir de la imagen de microondas en el sistema general de coordenadas determinación de la distancia Z1 entre la fuente de radiación de microondas y una sección de la imagen de microondas del reflector que esté libre del objeto dieléctrico, y la distancia Z2 entre la fuente de radiación de microondas y la sección de la imagen de microondas del reflector en la región del objeto dieléctrico;

sobre la base de la imagen de video, determinación en el sistema general de coordenadas de la distancia Z3 entre la fuente de radiación de microondas y la imagen de video del objeto dieléctrico; por medio de lo que se determina la permitividad dieléctrica e del objeto dieléctrico a partir de la relación:**Fórmula**

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/RU2010/000724.

Solicitante: APSTEC Systems Ltd.

Nacionalidad solicitante: Malta.

Dirección: 99 Triq Censu Busuttil IKL 1200 Iklin MALTA.

Inventor/es: KUZNETSOV,ANDREY VIKTOROVICH, GORSHKOV,IGOR YURIEVICH, AVERYANOV,VALERY PETROVICH.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N22/00 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › Investigación o análisis de materiales por la utilización de microondas (G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 24/00 tienen prioridad).

PDF original: ES-2557457_T3.pdf

 

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